| 详细参数 测试点数 标准配备:256点,可以每片开关板64点或128点扩充至1792点 大型主机(8u):可以每片关开板256点扩充至3584点 测试步骤 最大步骤: 12288步骤,可依需求扩充 测试时间 开路/短路测试:每1000点约1Sec(Typical DUT) 元件测试:每一元件约0.6mSec至30mSec(Typical DUT) 测试范围 电阻:0.1Ω至40MΩ电晶体/二极体: 0.1V至9.99V 电容:1.0PF至100mF Zener Diode:标准,0.1V至9.99V,选配HV,0.1V至48V 电感:1.0UH至60H 隔离点电路 隔离点自动选择,每测试步骤5点 测试值上下限设定范围 上限:+1%至999%下限:-1%至-99% 可测电路板尺寸 标准配备: 420mm(宽)×300mm(深)×100mm(高) 选购配备: 500mm(宽)×350mm(深)×130mm(高),更大尺寸基板可依需求订做. 主控制电脑 Pentium4等级以上PC 监视器 Super VGA低辐射CRT彩色监视器或彩色液晶显示器 记忆设备 3.5" 1.44MB,磁碟机一台,80GB以上硬式磁碟机一台 列印机 标准配备:40行双色列印机 *其它选购配备 WindowsXP作业系统环境,多国语言使用界面(英文、中文、日文） |
